2016年01月13日 星期三

X射线荧光光谱仪(XRF)

来源:物化探所 装备基建处 发布时间:2023-10-10

一、仪器型号

Axios PW4400/40 (荷兰帕纳科)

二、主要性能参数

1.测试元素:11Na-92U

2.测试含量范围:0.5×10-6~100%;

三、应用领域

用于矿石、岩石、土壤、沉积物、植物、生物、食品等样品中常量、微量元素量的测定。