一、仪器型号
Zeiss Sigma 500(德国蔡司)
二、主要性能参数
1.图像分辨率:
0.8nm @15 kV 1.6 nm @1kV
2.电子光学系统:
发射源:Schottky型场发射(热场发射)电子源
加速电压范围:调整范围:20 V~30 kV
放大倍数:范围10x~1000,000x
扫描方式:全帧、选区、定点、线扫描、扫描旋转、倾斜补偿。
3.样品室及样品台
样品是内部尺寸:358 mm内径,270.5 mm高
4.探测器:
镜筒内(In-lens)二次电子探测器
背散射电子探测器
样品室二次电子探测器
三、应用领域
岩石、土壤、断层泥以及自然界各种介质中的纳微米物质进行大量的物质形态、结构、成分等的原位和高精度观测。